x射线镀层测厚仪的使用原理?有辐射吗?
保护好的话没有辐射的，一般厂家都有辐射豁免证书的。这个可以让厂家提供。X射线镀层测厚仪的使用原理是基于X射线荧光（XRF）技术。
使用原理科普：x射线照射被测物品，检测系统将其转换、记录为成比例的电信号，测量x射线的强度即可得到镀层厚度。深圳大成精密研制的x射线镀层测厚仪，具备质量好、无辐射等特点，可以实现高准度测量。
一般来说X应该镀层测厚仪都有辐射豁免的。这个可以要求乙方提供豁免证书。X射线光谱仪是一种用于分析材料成分和化学结构的仪器，其工作原理是利用X射线与材料相互作用后产生的特征谱线来进行分析。
XRF镀层测厚仪的工作原理主要是基于X射线荧光(XRF)和能量色散X射线谱(EDXRF)技术。当X射线照射到样品（通常是金属）时，它会与样品中的原子相互作用，激发出特征X射线。这些特征X射线的能量与样品中元素的原子序数有关。
X射线荧光光谱仪原理?
透射电子：若样品很薄，部分电子穿过试样成为透射电子。因此，对于薄样，可以利用特征能量损失配合电子能量分析器进行微区成分分析。
X射线荧光光谱仪就是利用这个原理进行对物品所含原子的测量。而现有的X射线荧光光谱仪包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDX）、波长色散型X射线荧光光谱仪（WDX）。对于X射线荧光光谱仪还有什么问题，欢迎向领|拓|仪|器|提出。
它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。
X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。
简述产生x射线荧光的原理
1、荧光X射线是指当物质受到入射X射线的激发后，发射出的能量较低的X射线。
2、荧光分析法是材料元素分析的一种方法，它是利用一定波长的x射线照射材料，元素处于激发态，从而产激发出光子，形成一种荧光x射线。
3、：特征X射线：样品内层电子被入射电子激发后，外层电子会向内层跃迁以填补空位，这时就会释放具有特征能量的X射线。当用X射线探测器探测到微区的特征波长，就可以以此来进行元素判定。
4、余下的空穴会由更外层的电子进行补充。在电子补充（跃迁）的过程中，会以光子形式辐射出能量，这种光子就形成了X荧光。当这种荧光被探测器检测到时，我们就能看到样品中各元素的组成成份。
X射线荧光光谱仪分析原理???
1、透射电子：若样品很薄，部分电子穿过试样成为透射电子。因此，对于薄样，可以利用特征能量损失配合电子能量分析器进行微区成分分析。
2、X射线荧光光谱学提供了一个用测量其特征X射线辐射波长或能量来确定元素种类的定性分析方法，同时测量辐射的特征谱线的强度，然后把这一强度和元素的浓度联系起来，即可进行给定元素的定量分析。
3、X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、 探测、 记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级 X 射线。它由高压发生器和X光管组成 。后者功率较大 ，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X 射线 。
4、X射线荧光光谱仪就是利用这个原理进行对物品所含原子的测量。而现有的X射线荧光光谱仪包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDX）、波长色散型X射线荧光光谱仪（WDX）。
5、这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
