用什么工具测量PC材料导电值?
1、万用表，万用表可以用于测设备元件的电阻值，万用表测量绝缘电阻时，要调到欧姆档来测，一般有：x1，x10，x100，x1000几个档位。
2、兆欧表主要用来检查电气设备、家用电器或电气线路对地及相间的绝缘电阻。按不同的产品，兆欧表选择100V、250V、500V、1000V等不同的电压等级，来测量其绝缘电阻值。
3、兆欧表是用来测量被测设备的绝缘电阻和高值电阻的仪表，它由一个手摇发电机、表头和三个接线柱（即L：线路端、E：接地端、G：屏蔽端）组成。摇表的选用原则 （1）额定电压等级的选择。
4、IPQC不是专业检测东西的。平常是对制造流程，违规行为，要懂得多。总之是维护产线正常运作，出现问题及时解决，或者报告的品检。像测试电容尺寸用游标卡尺，认得色环电阻大小，辨别电容是低阻抗还是普通品。反正，小问题很多。
5、你要求在什么情况工作，如果一般的直流要求不高可以用数字万用表台式的相对精确一点，在精确一些的可以用数字电桥。
6、热敏电阻的标称阻值选择合适的电阻挡可直接测出Rt 的实际值。
四探针测试仪的应用
1、rts8型四探针电导率测试仪不可以测金属和玻璃。电导率传感器测试仪是在实验室、工业生产和探测领域里，被用来测量超纯水、纯水、饮用水、污水等各种溶液的电导性或水标本整体离子的浓度的传感器。
2、举例，高温四探针电阻率测试仪可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。
3、四探针电阻率测试仪其实从专业角度来说，就是高温四探针测量系统。该系统包括高温测试平台、高温四探针夹具、电阻率测试仪和高温电阻率测量软件。三琦高温四探针测量系统是为了满足材料在高温环境下的阻抗特性测量需求而设计的。
4、四探针电阻测试仪：用于测量物质的电阻主机采用世界领先的先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。
5、四探针就是用来测电阻的。电阻率，方块电阻都可以。不管是啥时候的硅片，都可以测！！看样子你是要做solar cells。离子注入或者扩散前后都可以测，把你的硅片类型，厚度选好，测试手段，电流放大倍数填好就OK了。
6、绝缘电阻测试仪输出短路电流的大小可反映出该兆欧表内部输出高压源内阻的大小。当被测试品存在电容量时，在测试过程的开始阶段，绝缘电阻测试仪内的高压源要通过其内阻向该电容充电，并逐步将电压充到绝缘电阻测试仪的输出额定高压值。
表面电阻测试仪的原理
通过测量防静电产品表面的 电阻，从而检测防静电产品的防静电能力。表面电阻测试仪是通过测量防静电产品表面的电阻，从而检测防静电产品的防静电能力。
原理很简单，电阻=电压/电流。用一个微弱的电流检测点对点电阻。 重锤不是绝缘的，防静电桌垫的电阻一般是10的6到8次方。
它的基本原理是将一定的电流通过待测电阻，然后测量电压和电流的比值，根据电学中的电动势定律（Ohmslaw），电压和电流之间的比值等于电阻。常用的电阻测量仪有两种：电桥和数字电阻表。
将表放在被测表面上，按住测量（TEST）按钮，持续发光的LED指示出对地电阻值的量级。这个测量值的单位是欧姆。阻抗值的转换点为1/2级对数即16×10n，转换点的线性值为每测量档的中值(mean value per unit)的±10%。
非接触测量的激励信号可能是光，或者微波（光的一种）。
求方块电阻测试仪的校准方法,应该是可以用直流电阻器校准的,但是不知道...
电压降法 原理是在被测绕组上施加DC电流，在绕组两端产生电压降。测量其绕组两端的电流和电压降，根据欧姆定律计算其DC电阻。这种方法的主要缺点是需要很长时间才能得到测试值。因为充电时间一般需要十几分钟甚至几十分钟。
因为在交流电路中我们测量的是阻抗，而不是电阻。阻抗公式为 Z =Vac/Iac 所以从上面的解释，你就可以理解为什么我们用直流电阻测试仪来测量绕组电阻了。
根据产品说明将测试设备正确连接到被测产品。在引导状态下将光标移动到查询数据菜单，然后按select键进入数据查询。选定电流后，按OK键开始充电。
直流电阻测试仪的使用方法：选择量程 本机共设置六档量程，当显示屏显示如图4-1所示的画面时，按 中的一个选择最适当的量程进行测试。这时显示屏上的“量程”呈闪烁状态。
一 、测试前准备 电池电压检查：开机后，若LCD显示低电符号时，需立即更换电池，否则仪器不能正常使用。
什么是四探针电阻率测试仪?
KDY-1型四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。
四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。
HRMS-800高温四探针电阻率测试仪就是，主要测量的参数就是半导体材料的电阻、电阻率、方块电阻等。
四探针测量法是一种常用的体积电阻率测试方法，主要用于测量电子导体、导电薄膜及半导体材料。它通过使用四个电极，在被测材料上施加电压并测量电流来测量体积电阻率。
三琦高温四探针夹具是依据电性能测量四探针方法、并针对高温环境进行设计。由四个独立的探针调节装置、高温高频探针、调节支撑架、样品平台、隔热层、接线盒组成。
方阻详细资料大全
方阻就是方块电阻，指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻，如图一所示，即B边到C边的电阻值。
方块电阻与厚度有关。方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形测量值都是一样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关，表征膜层致密性，同时表征对热红外光谱的透过能力。
Ω/□表示是450方阻，Ω/□是方阻的单位。在一长为l、宽w、高d（即为膜厚），此时L=l、S=w*d、故R=ρ*l/(w*d)=(ρ/d)*(l/w)，令l=w于是R=(ρ/d)，其中ρ为材料的电阻率，此时的R为方阻。
遇到这种问题，首先寻找题目中的电流表、电压表的量程要求，从滑动变阻器在电路中的作用之一保护电路，保护各电表、用电器不被损坏着手从滑动变阻器的作用保护各电表、用电器不超过量程范围、不被损坏入手。
