X射线荧光光谱仪的原理是什么?
x荧光光谱仪（xrf）由激发源（x射线管）和探测系统构成。x射线管产生入射x射线（一次x射线），激发被测样品。
X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。
它是通过分光晶体对不同波长的X射线荧光进行衍射而达到分光的目的，然后用探测器探测不同波长处的X射线荧光强度，这项技术称为波长色散(WDX)X射线荧光光谱仪。
两种类型的X射线荧光光谱仪工作原理都需要用X射线管作为激发光源。上图是X射线管的结构示意图。
x射线镀层测厚仪的使用原理?有辐射吗?
使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
电镀膜厚测试仪，原理是通过X-RAY射线对镀层进行穿透后反射回来通过时间等因素测试其厚度，X-ray射线发射器有一层物质包裹它防止其泄漏，这个危害很小基本没问题的。
x射线荧光光谱仪的工作原理
X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。
这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
两种类型的X射线荧光光谱仪工作原理都需要用X射线管作为激发光源。上图是X射线管的结构示意图。
根据莫塞莱定律，只要测出X荧光射线的波长，就可确定某元素的存在，只要测出X荧光射线的强度，就可确定某元素的含量。
全反射X射线荧光光谱仪的工作原理（TXRF） X射线荧光光谱分析法(XRF)的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF 分析法可以： 根据荧光的波长和能量，确定元素； 各元素的浓度可根据荧光的强度进行计算。
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。
